La nueva plataforma Crossbeam 550 Samplefab FIB-SEM, para la preparación de muestras TEM ofrece un rendimiento de automatización líder en la industria. El Crossbeam 550 Samplefab FIB-SEM ha sido optimizado para la preparación automatizada de muestras de microscopía electrónica de transmisión (TEM) mediante la creación de lamelas desde muestras a granel, alcanzando un grosor de […]