Sistema de inspección por rayos X OMNIA GC 220-180
El sistema de inspección por rayos X OMNIA GC 220-180 permite analizar grandes piezas de fundición en ciclos de apenas 3 segundos, ofreciendo ángulos...
Microscopio y máquina de medición O-INSPECT duo
El modelo ZEISS O-INSPECT duo ofrece una solución “dos en uno” con inspección microscópica y tecnología de medición óptica y táctil, dotando de un sistema integral para componentes industriales de cualquier tamaño. ZEISS Industrial Quality Solutions, fabricante de soluciones de metrología multidimensional, anuncia el modelo ZEISS O-INSPECT duo, una solución “dos en uno” diseñada para […]
Plataforma Crossbeam 550 Samplefab FIB-SEM
La nueva plataforma Crossbeam 550 Samplefab FIB-SEM, para la preparación de muestras TEM ofrece un rendimiento de automatización líder en la industria. El Crossbeam 550 Samplefab FIB-SEM ha sido optimizado para la preparación automatizada de muestras de microscopía electrónica de transmisión (TEM) mediante la creación de lamelas desde muestras a granel, alcanzando un grosor de […]
